返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
產(chǎn)品分類
- 哈納代理
- 哈希代理
- 杭州思看
- 英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson
- 德國(guó)Fischer菲希爾
- 德國(guó)Sensopart森薩帕特
- 德國(guó)Elektrophysik EPK
- 德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
- 德國(guó)BYK
- 德國(guó)馬爾 Mahr
- 德國(guó)尼克斯QNix
- 德國(guó)馬爾Mahr
- 美國(guó)SDI
- 美國(guó)FLIR
- 美國(guó)Mark-10
- 美國(guó)狄夫斯高 Defelsko
- 美國(guó)GE
- 美國(guó)福祿克Fluke
- 美國(guó)API
- 英國(guó)易高Elcometer
- 日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
- 日本三豐Mitutoyo
- 瑞士TESA
- 瑞士TRIMOS
- 瑞士博勢(shì) Proceq
- 香港嘉儀CanNeed
- 弗勞恩霍夫
技術(shù)文章
當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀X-RAY XDL-210信息
點(diǎn)擊次數(shù)：61 更新時(shí)間：2025-10-15
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210 菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀是一款專為高精度、非破壞性鍍層厚度測(cè)量和材料成分分析而設(shè)計(jì)的臺(tái)式儀器，其典型應(yīng)用領(lǐng)域和設(shè)計(jì)理念如下：
一、典型應(yīng)用領(lǐng)域
大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件測(cè)量
適用于汽車、五金、衛(wèi)浴等行業(yè)中大批量電鍍零件的質(zhì)量控制，如鋅、鎳、鉻等多層鍍層的厚度檢測(cè)。
薄鍍層的精確測(cè)量
特別適合測(cè)量裝飾性鍍層（如裝飾鉻、金、銀等），即使鍍層厚度僅為幾納米也能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
電子與半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層分析
可用于測(cè)量PCB（印刷線路板）上的銅、錫、金、鈀等關(guān)鍵功能性鍍層，確保電氣性能和可靠性。
全自動(dòng)測(cè)量任務(wù)
配合馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的X-Y平臺(tái)和激光定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)印刷線路板等復(fù)雜樣品的自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，提升效率與重復(fù)性。
電鍍?nèi)芤撼煞址治觯ㄩg接應(yīng)用）
雖然XDL-210主要用于固體樣品，但通過測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品或沉積層，可間接評(píng)估電鍍液中金屬離子濃度的變化趨勢(shì)，輔助工藝控制。
